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SMU数字源表搭建晶圆级微电子材料器件测试系统

发布时间:2024-06-03 信息有效期:30天 浏览:192举报
SMU数字源表搭建晶圆级微电子材料器件测试系统
  • 信息分类:其它类 - 其它类别
  • 所在区域:湖北省 - 武汉市
  • 有效日期:30天
  • 信息类型:产品信息
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在半导体材料和器件的研究中,电性能测试是必不可少的环节。随着半导体技术的提升,微电子工艺逐渐复杂,如何对微电子材料器件进行高效率测试成为业内关注的重点。普赛斯仪表陆续推出多型号国产化数字源表SMU,为进一步打通测试融合壁垒,打造闭环解决方案,通过对半导体高端测试装备上下游产业链的垂直整合,晶圆级微电子材料器件测试系统应运而生!
普赛斯数字源表SMU是整个测试系统的核心部分,用户可以根据材料器件不同的电流、电压,配置不同规格参数的源表和探针台。
详询一八一四零六六三四七六;

更高效:灵活测试:

体积小巧,节省实验台空间
接线简单,无需繁杂的同步触发操作
适应多种测量模式,如四探针、三同轴等

更可靠:广泛应用:
利用普赛斯这套国产化高精度数字源表+探针台的测试系统,可以为您完成任何晶圆、芯片、微小电子器件的测试。

目前,普赛斯仪表已拥有涵盖直流源表、脉冲源表、窄脉冲源、大电流脉冲源、高电流源、高电压源、大功率激光器测试电源、插卡式源表、数据采集卡、脉冲恒压源等完整的国产化数字源表解决方案,可为不同领域、不同需求的用户提供全方位的测试支持,打造高效、灵活的微电子材料器件测试系统!

关键字数字源表,SMU源表,微电子材料测试,微电子器件测试
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