SET2DIL / SET2SEIL
Intel發明的信號損失測試方法SET2DIL / SET2SEIL，現在已經可以在ACCU-Prober上實現了。ACCU-Prober目前完全支援這兩種測試方法，差分信號損失SET2DIL（Sdd21 Differential Insertion Loss）以及單端信號損失SET2SEIL (Sd21 Single Ended Insertion Loss)。
ACCU-Prober with SET2DIL / SET2SEIL
ACCU-Prober with SET2DIL/SET2SEIL是設計來符合現今電路板產業越來越多高頻測試的需求，SET2DIL與SET2SEIL 的發明者Intel與Introbotix合作開發出此套系統，僅需要使用一支簡單的手持式單端探針就可以量測差分信號損失。同樣地在ACCU-Prober with SET2DIL也建置了與ACCU-Prober Standard相同的測試能力，可以量測阻抗、EBW、Effective Er等等，都可以在同一套系統上面實現。
靜電隔離裝置（Static Isolation Unit ）
為了避免容易被靜電傷害的取樣模組損壞，每一個ACCU-Prober都配備有靜電隔離裝置，可以有效的降低取樣模組被靜電擊穿的可能性，讓量產測試更加順暢。搭配Introbotix專業的高頻量測控制技術，軟體精確的控制TDR量測取樣的過程，確保最低的靜電擊穿風險。
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