AWG自动化测试系统，由C+L Band可调光源，48通道功率计和安捷伦8169A偏振控制器组成，快速测试AWG芯片，半成品和成品。
自动计算ITU IL、Min IL、Max IL、PDL、Ripple, Uniformity、CWL、Bandwidth(0.5dB,1dB,20dB等） 、Total Crosstalk，Adjacent,Non-Adjacent,PDW等参数.
根据预设定的规格，自动判定测试结果，自动标识不合格数据
波形图显示测试原始trace数据,并且支持图形任意缩放以供实时快速分析
动保存原始测试数据和处理后的测试结果到SQL Server数据库，支持海量存储、查询和快速导出供工程分析
自动生成测试报告，报告格式可自定义。
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