概述： SPA-6100半导体参数分析仪SiC MOS单管测试仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发，具有...

半导体分立器件泛指二极管、三极管等具有单一功能的半导体元器件，用于电力电子设备的整流、稳压、开关、混频等电路中，是构成电力电子变化装置的核心器件之一，在消费电子、汽车电子、电子仪器仪表、工业及自动化控制、计算机及周边设备、网络通讯等众多国民经济领域均有广泛的应用。半导体分立器件市场前景广阔，根据基材不同，半导...

 半导体性能检测设备IV电性能测试仪认准生产厂家武汉普赛斯仪表，普赛斯S系列、P系列源表标准的SCPI指令集，Y秀的性价比，良好的售后服务与技术支持，详询一八一四零六六三四七六；普赛斯仪表是手家国产数字源表生产厂家，产品已经历3年迭代完善，对标2400、2450、2611、2601B、2651、2657等； 源表优点： 同时精确提供和测量电...

普赛斯PMST-3500V功率半导体参数测试仪功率器件分析仪,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流特性、uQ级精确测量、nA级电流测量能力等特点。支持高压模式下测量功率器件结电容,如输入电容、输出电容、反向传输电容等。详询一八一四零六六三四七六；    普赛斯功率器...

半导体分立器件泛指二极管、三极管等具有单一功能的半导体元器件，用于电力电子设备的整流、稳压、开关、混频等电路中，是构成电力电子变化装置的核心器件之一，在消费电子、汽车电子、电子仪器仪表、工业及自动化控制、计算机及周边设备、网络通讯等众多国民经济领域均有广泛的应用。半导体分立器件市场前景广阔，根据基材不同，半导...

半导体分立器件是指以半导体材料为基础的单一元件，包括各种半导体材料制成的二极管、三极管、场效应管、可控硅等，具有整流、放大、开关、检波，稳压、信号调制等多种功能，衡量晶体管性能好坏主要是通过I-V测试或C-V测试来提取晶体管的基本特性参数，并在整个工艺结束后评估器件的优劣。   半导体分立器件特性参数测试是...

芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤，是使用特定仪器，通过对待测器件DUT(DeviceUnderTest)的检测，区别缺陷、验证器件是否符合设计目标、分离器件好坏的过程。其中直流参数测试是检验芯片电性能的重要手段之一，常用的测试方法是FIMV（加电流测电压）及FVMI（加电压测电流）。MEMS芯片电性能分析数字源表就找普...

光电探测器光电测试  光电探测器一般需要先对晶圆进行测试,封装后再对器件进行二次测试,完成最终的特性分析和分拣操作;光电探测器在工作时,需要施加反向偏置电压来拉开光注入产生的电子空穴对,从而完成光生载流子过程,因此光电探测器通常在反向状态工作;测试时比较关注暗电流、反向击穿电压、结电容、响应度、串扰等参数。 利...

光伏电池从研发到生产，每个环节都有不同的测试需求，主要包括Z大电流IMAX和电压VMAX、开路电压Voc、短路电流lsc、填充因子FF以及转换效率η等。 传统的l-V测试所用的电源只能输出电压或电流，无法作为负载吸收能量，而数字源表(SMU)是一种可以提供完整的四象限运行的精密仪表，综合了电流源、电压源、电流表、电压表及电子负载的功能...

利用普赛斯数字源表SMU灵活进行电阻测量实时测试多种材料在同-环境条件下的电阻值的反应灵敏;在低电压下进行下高范围跨度(Q、 KQ、MQ、GQ)的电阻测量，测试设备输入电阻要求高;I/N曲线扫描;上位机实时显示各不同压敏电阻R/t曲线，并可记录存档。S系列源表+上位机软件电压范围从300μV~300V,电流从100pA~1A;输出精度达到0.03%，最大...