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LED LM-80复叠式老化测试系统(半导体型)
来源:广东宏展科技有限公司 点击:374 次 2018-12-17
[导读]



本机是根据IES LM-80标准,针对LED灯珠测试中的老化测试项目而研发的一款专用机台,具有Ts Ta双路温度独立控制,测试区湿度控制等功能,单一区间内多路模组独立控制,半导体电制冷恒温,双向PID功率调节输出,并可无缝配合积分球测试的全新一代老化测试系统。

设备特点

环境温度:能够有效控制LED灯珠老化的环境温度,即周围空气温度Ta

湿度显示:能够做到Ts,Ta温度及湿度实时显示功能。

TS制:能够精准控制每一颗LED灯珠的TS

TA制:能够精准控制周围空气温度Ta,并满足LM-80TA不低于TS-5

温度测试:在厂家指定位置TS的情况下,能够对每一颗LED灯珠的壳温度进行在线实时监测。

远程监测:能够对每一颗LED灯珠的TS,TA进行在线实时监测,并且传输给远程电脑,做到数据同步和备份。

电流控制:每一颗LED灯珠由独立恒流电流源供电,可单独控制输出电流值,并满足LM-80的±3%的偏差要求。

时间采集:对于每一组LED灯珠被点亮的老化时间精确采集,并且符合LM-80老化时间±0.5%的偏差要求。

控制备份:有主从备份计算机,即可实现数据备份,也可实现控制备份。

过温保护:具备完善可靠的温度故障保护停机功能。

模块结构:整体式造型,便于安装、拆卸,采用快速接口,安装方便,提高工作效率。

适用种类:电路板安装形式(直接将灯珠放置在模块上测试)或夹具安装形式(将灯珠放置在夹具上测试)。

结构特点:低噪音、安全无泄漏、高效低成本、维护便捷、性能稳定。

型号

型号

UFL-8014C

WxHxDmm

UFL-8024C

WxHxDmm

UFL-8034C

WxHxDmm

内部尺寸

400X400X660

400X400X660

400X400X660

外部尺寸

1250X810X1000

1250X1310X1000

1250X1810X1000

温度、湿度、环境参数

温度范围

常温+5~150

环境湿度

≤65%H

温度解析度

0.01

温度控制精度

±1.5

波动度

±0.5

测试时间和间隔

6000hrs,每隔1000小时采集一次数据,建议初始会测试数据频率密集(0,24,48,120,480,1000……

条件

Case的温度TS=55,85,T3rd(在规定外用户自选温度)

环境的温度TA

TaTs-5℃测试距Case正上方1.5mm空气中温度

内箱风速

0.3m/s

测试容量

根据客户产品尺寸及功率大小不同,测试容量不同

数据采集、远程监控参数

采集器配备

采用YOKOGAWA MW100数据采集器,根据机器选型的不同可分别配置20304060通道的采集器(也可根据客户要求配备)

高速测量

10ch/1s,60ch/1s(1个主单元内)高速测量:蕞短测控周期为1ms

多测量周期

一个主单元可以混合三种测试周期,蕞大可支持2GCF卡,(在60ch/100 ms时可连续采集数据约10天,60ch/1s时可连续采集约3个月)

采集器特点

MW100本体带有开/关按钮,既可独立采集数据,也可以利用以太网和浏览器软件在PC上进行实时监视,通过网络采集数据,MW100r数据输入输出范围广,可支持高速测量,同时具有很强的抗干扰性,即使在恶劣环境中也可以完成测量工作。

采集时间分辨率

10ms~500ms

电源参数

通道数

标配40通道(选配蕞大可达1000个)

电流量程

0-1A,0-10A,0-20A以上

通道间连接方式

通道间可以并联以增大电流

老化电流精度

老化测试时输入电流应控制在额定电流的±3%

测试电流精度

光学测试时输入电流应控制在额定电流的±0.5%

电压表参数

电压量程

0-150V(选配可达40V)

分辨率

0.1V


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