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通讯方式，RS-232、GPIB及以太网 脉冲源表应用•分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等•能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等•传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等•有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等 ...
静态特性测试挑战 随着半导体制程工艺不断提升，测试和验证也变得更加重要。通常，主要的功率半导体器件特性分为静态特性、动态特性、开关特性。静态参数特性主要是表征器件本征特性指标，与工作条件无关的相关参数，如很多功率器件的的静态直流参数(如击穿电压、漏电流、阈值电压、跨导、压降、导通内阻)等。 功率半导体器件是一种复...
在半导体材料和器件的研究中，电性能测试是必不可少的环节。随着半导体技术的提升，微电子工艺逐渐复杂，如何对微电子材料器件进行高效率测试成为业内关注的重点。普赛斯仪表陆续推出多型号国产化数字源表SMU，为进一步打通测试融合壁垒，打造闭环解决方案，通过对半导体高端测试装备上下游产业链的垂直整合，晶圆级微电子材料器件测...
通常是复杂且成本昂贵的，需要多种仪器配合完成测试，对不同仪器进行编程、同步、连接、测量和分析，既复杂又耗时，还需占用大量测试台空间。 S系列数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构允许其使用作为波形发生器、以及自动电流-电压(I-V)表征系统。极大缩短测试系统的...
高精度多通道光纤延迟线1fs产品特性延迟机械装置连续可靠工作宽延迟范围电动光延迟线产品特性 应用领域延迟机械装置 &...
通门； 选择普赛斯理由 普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、高电流脉冲源表、高压电源等测试设备，广泛应用于高校研究所，实验室，新能源，光伏，风电，轨交，变频器等场景。...
普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置，通过矩阵开关加载在待测件上。 进行 C-V 测量时，通常在电容两端施加直流偏压，同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号频率在10KHz 到1MHz之间。所加载的...
通信产业的发展，是一家集研究、开发、生产、销售于一体的高科技企业。位于中国科技城——绵阳，旗下拥有子公司“cofiber"。公司拥有*光器件生产工艺和设备，拥有一批经验丰富的工程技术人员和生产员，并与北美几家光通讯公司及中国的光通讯研究机构合作，不断地开发新的生产工艺和产品，使产品工艺得到不断完善，努力成为国内大规模...
通道波长范围范围光纤类型纤长连接头2=2通道4=4通道8=8通道16=16通道X=X通道5=XXX1=1064nm2=1310nm3=1550nm10=100ps33=330ps70=700ps150=1500psXX=others1=SMF-28E2=PM15501=1.0mNE=NoneFA=FC/APCFC=FC/PCSA=SC/APCXX=XXX可调光纤延迟线hi1060可调光纤延迟线hi1060...
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