免费发布信息
直径尾纤长度连接头形式封装形式13=1310nm10=10mW9-0.9mm0=法兰0=NoneB=台式15=1550nm100=100mW2-2mm1 =lm1=FC/APCM=模块式XX =XXX1000=1000mW2 =2m2=FC/UPC3=SC/APC4=SC/PC ...
PXOOB系列多功能脉冲源表脉冲IV测试仪是普赛斯在直流源表的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，Z大脉冲输出电流达30A，Z大输出电压达300V，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。PXOOB系列源表适用于各行各业使用者，特别适合现代半导体、纳米器件和材料、...
静态特性测试挑战 随着半导体制程工艺不断提升，测试和验证也变得更加重要。通常，主要的功率半导体器件特性分为静态特性、动态特性、开关特性。静态参数特性主要是表征器件本征特性指标，与工作条件无关的相关参数，如很多功率器件的的静态直流参数(如击穿电压、漏电流、阈值电压、跨导、压降、导通内阻)等。 功率半导体器件是一种复...
在半导体材料和器件的研究中，电性能测试是必不可少的环节。随着半导体技术的提升，微电子工艺逐渐复杂，如何对微电子材料器件进行高效率测试成为业内关注的重点。普赛斯仪表陆续推出多型号国产化数字源表SMU，为进一步打通测试融合壁垒，打造闭环解决方案，通过对半导体高端测试装备上下游产业链的垂直整合，晶圆级微电子材料器件测...
�直媛实牟饬浚奔觳�10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量。SPA-6100半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程，实现高效和可重复的器件表征;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用，满足高低温测试需求。分立器件检...
直观。提供的应用程序 - 序列扫描- 自定义序列- 数据记录仪：持续输出恒压源测试模式；持续输出恒流源测试模式- APD管- 晶体管：MOSFET管测试；三极管测试- LIV：PIN管扫描测试- Gummer：双台源表使用同样参数进行扫描微电测试数字源表应用领域：分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极...
直流源表，脉冲源表、高电流脉冲源表、高压电源等测试设备，广泛应用于高校研究所，实验室，新能源，光伏，风电，轨交，变频器等场景。...
普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置，通过矩阵开关加载在待测件上。 进行 C-V 测量时，通常在电容两端施加直流偏压，同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号频率在10KHz 到1MHz之间。所加载的...
普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、脉冲恒流源、脉冲恒压源、功率器件静态测试系统、大功率激光器老化测试系统等测试设备，广泛应用于高校研究所、实验室，新能源，光伏，风电，轨交，变频器等场景。普赛斯全新升级S系列数字源表更大直流,更高精度,科研实验必...
单纤/双纤准直器产品特点应用低损耗光纤实验用低回反激光束准直高环境稳定性光纤到光纤耦合参数P级波长(nm)1310±30nm,1550±30nm1310/1550±30nm,980/1550±30nm 或客户定插损（典型）（dB）0.17插损（最大）（dB）0.20回损(典型)65光束直径(mm)<0.5工作温度(℃)-20℃~＋75℃存储温度(℃)-40℃~＋85℃封装尺寸3.2×9 or 10mm...
|