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ER(PA)， 即前置放大器，用于-40 ~ -25 dBm 范围内的微小光信号的放大，典型增益 35 dB；功率放大器：BoostER-AmplifiER(BA)，用于- 6 ~ + 3 dBm 范围内的光信号的功率提升，最大输出功率可达 27 dBm；掺饵光纤放大器200mw四川梓冠光电科技有限公司致力于光通信产业的发展，是一家集研究、开发、生产、销售于一体的高科技企业。位于中...
ERs1=SMF-28E2=PM15501=1.0mNE=NoneFA=FC/APCFC=FC/PCSA=SC/APCXX=XXX高精度多通道光纤延迟线10fs高精度多通道光纤延迟线10fs...
光纤激光器简介光纤激光器采用DFB半导体激光芯片，单模光纤输出，专业设计的驱动电路与TEC控制保证激光安全稳定工作，可提供台式或模块式封装。特性 应用 功率和光谱稳定 ...
ERnal connection2VCCPowER Supply (3 or 5v)3STROBEFalling Edge Active (input)4GNDSignal Ground5D0Data 0 (input)6D1Data 1 (input)7D2Data 2 (input)8D3Data 3 (input)9UART TXUART Transmit (output)10UART RXUART Receive (input)11GNDCase Ground12RDYReady (output),used for intERnal debugging13MODE0=TALL, 1=UART (input...
静态特性测试挑战 随着半导体制程工艺不断提升，测试和验证也变得更加重要。通常，主要的功率半导体器件特性分为静态特性、动态特性、开关特性。静态参数特性主要是表征器件本征特性指标，与工作条件无关的相关参数，如很多功率器件的的静态直流参数(如击穿电压、漏电流、阈值电压、跨导、压降、导通内阻)等。 功率半导体器件是一种复...
在半导体材料和器件的研究中，电性能测试是必不可少的环节。随着半导体技术的提升，微电子工艺逐渐复杂，如何对微电子材料器件进行高效率测试成为业内关注的重点。普赛斯仪表陆续推出多型号国产化数字源表SMU，为进一步打通测试融合壁垒，打造闭环解决方案，通过对半导体高端测试装备上下游产业链的垂直整合，晶圆级微电子材料器件测...
ER：双台源表使用同样参数进行扫描微电测试数字源表应用领域：分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件；能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器；传感器特性测试：电阻率、霍尔效应等；有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术等；纳米...
按压式 偏振控制器特点 应用低损耗高速电信系统紧凑型波分复用系统易于连接光纤激光器低成本光纤传感器系统 特点应用低损耗高速电信系统紧凑型波分复用系统易于连接光纤激光器低成本光纤传感器系统对波长变化不敏感保偏光纤系统适用于任何尺寸的光纤远程系统规格参数:插入损耗< 0.05 dB回波损耗> 65 dB工作波长405~1700nm消光...
ERs1=SMF-28E2=PM15501=1.0mNE=NoneFA=FC/APCFC=FC/PCSA=SC/APCXX=XXX高精度多通道光纤延迟线1fs高精度多通道光纤延迟线1fs...
普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置，通过矩阵开关加载在待测件上。 进行 C-V 测量时，通常在电容两端施加直流偏压，同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号频率在10KHz 到1MHz之间。所加载的...
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